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 现行标准检索 |
| 标准编号 |
NF C86-410-1987 |
标准名称 |
半导体器件.电子元件的质量评定协调体系.薄膜及混合集成电路.一般规范(规范CECC 63 000) |
| 英文名称 |
(SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. GENERIC SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 000).) |
代
替 号 |
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| 采用标准 |
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| 归口单位 |
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| 起草单位 |
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分
类 号 |
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国际分类号 |
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发布日期 |
1987-11 |
实施日期 |
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| 内容介绍 |
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