2014年5月23~24日，由国家标准化管理委员会主办、中机生产力促进中心承办的国际标准化组织颗粒表征及筛网技术委员会颗粒表征分技术委员会（ISO/TC24/SC4）第46次会议在北京召开。来自美国、德国、英国、法国、奥地利、比利时、荷兰、俄罗斯和中国等9个国家的76名代表参加此次大会及其13个工作组会议。会议对颗粒表征领域的20余项在研标准进行讨论，最终通过了6项决议。

    本次会议中国代表团派出24名代表，代表分别来自颗粒表征相关的科研单位、高校、检测机构、仪器和样品制造企业。与会代表结合科研成果和实际应用经验，积极参与国际标准的讨论。特别是在小角X光散射工作组，我国代表从该方法的原理、测量范围等角度提出8条修改意见，得到工作组重视并部分采纳，保护了我国在小角X光散射领域技术专长，增强了在国际标准化工作的影响。

    本次国际会议的举办，不仅为国内代表提供了解国际颗粒表征发展动态的窗口，更建立了参与国际标准化工作的平台，促进了实质性参与国际标准化工作，有效地保护了我国自主知识产权。

    ISO/TC24/SC4现有美国、德国、英国、日本、中国、法国、奥地利等17个P成员国，已制定了50余项国际标准，20余项处于制定阶段。颗粒表征标准是计量、检测、环保、先进制造等领域标准和方法的基础，有着广泛而深远的影响。

    会议期间，机械科学研究总院单忠德副院长与参会代表会面，对科学家们在颗粒表征领域取得的成绩表示赞许，并期望有助于污染治理和环境空气质量改善。